Obálka není k dispozici
Analýza povrchů a tenkých vrstev využitím fotoelektronové spektroskopie
Surface and thin film analysis by photoelectron spectroscopy : zkrácená verze Ph.D. Thesis
Věcné třídění
Bibliografické údaje
- Neurčeno
- Surface and thin film analysis by photoelectron spectroscopy
- Nakladatel
- Vysoké učení technické v Brně
- Vydáno
- 2006
- Místo vydání
- [V Brně
- Jazyk
- Čeština
- Ilustrace
- il.
Vydání
- Tištěná knihaBrožovaná vazba
978-80-214-3209-3 (brož.)
Vydáno:
- Typ obsahu
- Text
- Rozsah
- 26 Strany
- Skladba produktu
- Jednosložkový maloobchodní produkt
- Stav vydání
- Neurčeno
Obsahy
Významná vlastnost
"Studijní obor: Fyzikální a materiálové inženýrství"--Tit. s.
Významná vlastnost
Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2006
Doporučení
Obsahuje bibliografii
Významná vlastnost
V publikaci uvedeno: [V Brně : Vysoké učení technické]