Advanced environmental scanning electron microscopy for study of susceptible samples in their native state and under dynamically changing conditions
Pokročilá environmentální rastrovací elektronová mikroskopie pro studium citlivých vzorků v jejich nativním stavu a při dynamicky se měnících podmínkách : zkrácená verze habilitační práce
Věcné třídění
Bibliografické údaje
- Neurčeno
- Pokročilá environmentální rastrovací elektronová mikroskopie pro studium citlivých vzorků v jejich nativním stavu a při dynamicky se měnících podmínkách
- Nakladatel
- Vysoké učení technické v Brně
- Vydáno
- 2021
- Místo vydání
- Brno
- Jazyk
- Angličtina
- Ilustrace
- ilustrace
Vydání
- Tištěná knihaBrožovaná vazba
978-80-214-5923-6 (brožováno)
Vydáno:
- Typ obsahu
- Text
- Skladba produktu
- Jednosložkový maloobchodní produkt
- Stav vydání
- Neurčeno
Obsahy
Významná vlastnost
V publikaci uvedeno: Brno : Vysoké učení technické v Brně, nakladatelství VUTIUM
Významná vlastnost
"Obor Elektrotechnická a elektronická technologie"
Doporučení
Obsahuje bibliografii
Významná vlastnost
Zkrácená verze habilitace--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, Ústav elektrotechnologie, 2021