TOF-LEIS analysis of ultrathin films
Analýza povrchů a tenkých vrstev metodou TOF-LEIS : zkrácená verze Ph.D. Thesis
Kolíbal Miroslavdalší primární původceAutoritní záznam NK ČRVysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrstvídalší primární původceAutoritní záznam NK ČR
Věcné třídění
Bibliografické údaje
- Neurčeno
- Analýza povrchů a tenkých vrstev metodou TOF-LEIS
- Nakladatel
- Vysoké učení technické v Brně
- Vydáno
- 2009
- Místo vydání
- [V Brně
- Jazyk
- Angličtina
- Ilustrace
- il.
Vydání
- Tištěná knihaBrožovaná vazba
978-80-214-3858-3 (brož.)
Vydáno:
- Typ obsahu
- Text
- Rozsah
- 22 Strany
- Skladba produktu
- Jednosložkový maloobchodní produkt
- Stav vydání
- Neurčeno
Obsahy
Významná vlastnost
"Obor: Fyzikální a materiálové inženýrství"
Významná vlastnost
V publikaci uvedeno: [V Brně : Vysoké učení technické]
Doporučení
Obsahuje bibliografii