Obálka není k dispozici
Noise and reliability of semiconductor devices
proceedings of the International NODITO Workshop, [Brno], July, 18-20, 1995
Schauer PaveleditorAutoritní záznam NK ČRŠikula JosefeditorAutoritní záznam NK ČRVysoké učení technické v Brnědalší primární původceAutoritní záznam NK ČR
Věcné třídění
Bibliografické údaje
- Neurčeno
- NODITO
- Nakladatel
- Vysoké učení technické v Brně
- Vydáno
- 1995
- Místo vydání
- Brno
- Jazyk
- Angličtina
- Ilustrace
- il.
Vydání
- Tištěná knihaBrožovaná vazba
978-80-214-0663-6 (brož.)
Vydáno:
- Typ obsahu
- Text
- Rozsah
- 228 Strany
- Skladba produktu
- Jednosložkový maloobchodní produkt
- Stav vydání
- Neurčeno
Obsahy
Významná vlastnost
Nad názvem: NODITO Workshop '95
Doporučení
Bibliogr.
Významná vlastnost
V publikaci uvedeno: Brno : Technical University