Scanning electron microscopy and its applications for sensitive samples
Rastrovací elektronová mikroskopie a její aplikace pro sensitivní vzorky : zkrácená verze Ph.D. Thesis
Tištěná kniha
Hrubanová Kamila, Vysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrství
Vysoké učení technické v Brně
2019
978-80-214-5818-5 (brožováno)