Scanning electron microscopy and its applications for sensitive samples
Rastrovací elektronová mikroskopie a její aplikace pro sensitivní vzorky : zkrácená verze Ph.D. Thesis
Hrubanová Kamiladalší primární původceAutoritní záznam NK ČRVysoké učení technické v Brně. Ústav fyzikálního inženýrstvídalší primární původceAutoritní záznam NK ČR
Věcné třídění
Bibliografické údaje
- Neurčeno
- Rastrovací elektronová mikroskopie a její aplikace pro sensitivní vzorky
- Nakladatel
- Vysoké učení technické v Brně
- Vydáno
- 2019
- Místo vydání
- Brno
- Jazyk
- Angličtina
- Ilustrace
- ilustrace
Vydání
- Tištěná knihaBrožovaná vazba
978-80-214-5818-5 (brožováno)
Vydáno:
- Typ obsahu
- Text
- Skladba produktu
- Jednosložkový maloobchodní produkt
- Stav vydání
- Neurčeno
Obsahy
Významná vlastnost
"Obor Fyzikální inženýrství"
Významná vlastnost
Zkrácená verze disertace (Ph.D.)--Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, Ústav fyzikálního inženýrství, 2019
Významná vlastnost
V publikaci uvedeno: Brno : Vysoké učení technické v Brně
Doporučení
Obsahuje bibliografie